반도체 양산 라인에서  Electron beam을 Sample의 표면에 주사하여 Sample 표면을 관찰하는 측정설비가 있는데 설비 외부의 AC & DC자장의 영향으로 Sample이미지를 제대로 볼수 없는 상황이 발생되고 있습니다.

혹시 이런 자장에 대한 차폐 장치나 물질이 있는지요.

연락주시면 가능성 검토 구매 예정입니다. 감사합니다